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LST-331四探針?lè )阶桦娮杪蕼y試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語(yǔ)言版本.硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及國標設計制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針?lè )ā?
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